10.14489/vkit.2016.01.pp.003-009

DOI: 10.14489/vkit.2016.01.pp.003-009

Абрамов А. Д., Никонов А. И.
АНАЛИЗ И КОРРЕЛЯЦИОННЫЙ МЕТОД УСТРАНЕНИЯ ПОГРЕШНОСТИ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОРЕЛЬЕФНЫХ ПАРАМЕТРОВ
(c. 3-9)

Аннотация. Рассмотрен метод компенсации дополнительной погрешности измерения параметров микрорельефа поверхности, возникающей при использовании оптико-электронных средств в результате отклонения мощности светового потока от его номинального значения. Установлено, что погрешность имеет мультипликативный характер. Предложен новый метод компенсации погрешности, основанный на применении двух функционалов, связанных с параметрами анализируемого микрорельефа. Предложена двухмерная корреляционная функция, вычисляемая по изображению микрорельефа поверхности в качестве функционала. Дана оценка характеристикам микрорельефа по автокорреляционным функциям.

Ключевые слова: оптико-электронный метод; измерение; преобразователь; поверхность; световой поток; изображение; погрешность; компенсация; автокорреляция.

Abramov A. D., Nikonov A. I.
ANALYSIS AND CORRELATION METHOD FOR ELIMINATING THE ERRORS OF OPTO-ELECTRONIC DETERMINATION OF MICRORELIEF PARAMETERS
(pp. 3-9)

Abstract. Compensation of the additional measurement error of the microrelief parameter arising when using opto-electronic means as a result of the deviation of the luminous flux power from its rated value is considered. It is established that the error has multiplicative character. Application traditional ratiometric method for elimination of the given lapse demands the big hardware expenses. The new method of compensation based on application of two functionals uniquely connected with analyzed microrelief parameters is offered. Use of the relation of these functionals guarantees reduction of the errors which are in numerator and a denominator of the given relation. The two-dimensional correlation function calculated according to the image of the microrelief of the surface as functionality is offered. Correlation function is wellknown mathematical object. Feature of the given method is correlation function scaling under the image of a microrelief of a surface. With that end in view in the surface image the reference fragment is selected. Then this standard scans the selected band of the image. At each combination of the standard and a current section of the analysed image the correlation factor is computed. The estimate is given to microrelief characteristics on autocorrelation functions. Thus, under characteristics of autocorrelation functions it is possible to estimate unequivocally microrelief characteristics and to eliminate the revealed additional error.

Keywords: Opto-electronic method; Measurement; Converter; Surface; Luminous flux; Image; Error; Compensation; Autocorrelation.

+ - Информация об авторах (About the Authors) Click to collapse

Рус

А. Д. Абрамов, А. И. Никонов (Самарский государственный технический университет) E-mail: Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript

Eng

A. D. Abramov, A. I. Nikonov (Samara State Technical University) E-mail: Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript

+ - Библиографический список (References) Click to collapse

Рус

1. Уайтхауз Д. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы / пер. с англ. А. Я. Григорьева, Д. В. Ткачука; под ред. Н. К. Мышкина. Долгопрудный: Интеллект, 2009. 472 с.
2. Суслов А. Г., Корсакова И. М. Назначение, обозначение и контроль параметров шероховатости поверхностей деталей машин: учеб. пособие для вузов. М.: Изд-во МГИУ, 2010. 111 с.
3. Абрамов А. Д. Определение микрогеометрии поверхности деталей машин и механизмов на основе компьютерной обработки их видеоизображений // Вестник компьютерных и информационных технологий. 2008. № 11. С. 18 – 25.
4. Пат. 2413179 G01B 11/30 (2006/01), G01N 21/93 (2006/01). Способ контроля шероховатости поверхности изделия / Абрамов А. Д., Никонов А. И., Носов Н. В.; заявитель и патентообладатель ГОУ ВПО «Самарский государственный технический университет». № 2009109452/28, заявл. 16.03.2009; опубл. 27.09.2010, Бюл. № 6. 11 с.
5. ГОСТ 8.009–84. Государственная система обеспечения единства измерений. Нормируемые метрологические характеристики средств измерений. Взамен ГОСТ 8.009–71; введ. 1986-01-01. М.: Стандартинформ, 2006. 27 с.
6. Метрология и электрические измерения: учеб. пособие для вузов / Е. Д. Шабалдин и др. Екатеринбург: Изд-во ГОУ ВПО «Рос. гос. проф.-пед. ун-т», 2006. 282 с.
7. Баскаков С. И. Радиотехнические цепи и сигналы: учебник для вузов по специальности «Радиотехника». 4-е изд., перераб. и доп. М.: Высшая школа, 2003. 462 с.
8. Даджион Д., Мерсеро Р. Цифровая обработка многомерных сигналов: пер. с англ. М.: Мир, 1988. 488 с.

Eng

1. Whitehouse D., Myshkin N. K. (Ed.), Grigor'ev A. Ia., Tkachuk D. V. (Transl.). (2009). Metrology of surfaces. Principles, industrial methods and instruments. Dolgoprudnyi: Intellekt.
2. Suslov A. G., Korsakova I. M. (2010). Assigning, marking and control of roughness parameters of the machine parts surfaces: textbook for universities. Moscow: Izdatel'stvo MGIU.
3. Abramov A. D. (2008). Determination of a surface microgeometry of mashines and mechanisms details based on optic-electronic means and computer technologies. Vestnik komp'iuternykh i informatsionnykh tekhnologii, (11), pp. 18-25.
4. Abramov A. D., Nikonov A. I., Nosov N. V. (2009). Method for controlling the surface roughness of the product. Ru Patent No. 2413179. Russian Federation.
5. State system for ensuring the uniformity of measurements. Standardized metrological characteristics of measuring instruments. (2006). Ru Standard No.GOST 8.009–84. Moscow: Standartinfrom.
6. Shabaldin E. D. et al. (2006). Metrology and electrical measurements: textbook for universities. Ekaterinburg: Izdatel'stvo GOU VPO «Rossiiskii gosudarstvennyi professional'nopedegogicheskii universitet».
7. Baskakov S. I. (2003). Radio circuits and signals: textbook for universities for specialty «Radio Engineering». 4th Ed. (revised and supplemented). Moscow: Vysshaia shkola.
8. Dadzhion D., Mersero R. (1988). Digital processing of multidimensional signals. Moscow: Mir.

+ - Заказать электронную версию статьи (Purchase digital version of a single article) Click to collapse

Рус

Статью можно приобрести в электронном виде (PDF формат).

DOI: 10.14489/vkit.2016.01.pp.003-009

Скопируйте DOI статьи и перейдите по ссылке https://id-spektr.ru/product/pokupka-elektronnoy-stati-iz-zhurnala-vestnik-kompyuternyh-i-informatsionnyh-tehnologiy

В комментарии к заказу обязательно укажите DOI статьи.

Eng

This article is available in electronic format (PDF).

DOI: 10.14489/vkit.2016.01.pp.003-009

Copy the article DOI and follow the link https://id-spektr.ru/product/pokupka-elektronnoy-stati-iz-zhurnala-vestnik-kompyuternyh-i-informatsionnyh-tehnologiy

Please specify the article DOI in the order comments.