10.14489/vkit.2016.01.pp.003-009 |
DOI: 10.14489/vkit.2016.01.pp.003-009 Абрамов А. Д., Никонов А. И. Аннотация. Рассмотрен метод компенсации дополнительной погрешности измерения параметров микрорельефа поверхности, возникающей при использовании оптико-электронных средств в результате отклонения мощности светового потока от его номинального значения. Установлено, что погрешность имеет мультипликативный характер. Предложен новый метод компенсации погрешности, основанный на применении двух функционалов, связанных с параметрами анализируемого микрорельефа. Предложена двухмерная корреляционная функция, вычисляемая по изображению микрорельефа поверхности в качестве функционала. Дана оценка характеристикам микрорельефа по автокорреляционным функциям. Ключевые слова: оптико-электронный метод; измерение; преобразователь; поверхность; световой поток; изображение; погрешность; компенсация; автокорреляция.
Abramov A. D., Nikonov A. I. Abstract. Compensation of the additional measurement error of the microrelief parameter arising when using opto-electronic means as a result of the deviation of the luminous flux power from its rated value is considered. It is established that the error has multiplicative character. Application traditional ratiometric method for elimination of the given lapse demands the big hardware expenses. The new method of compensation based on application of two functionals uniquely connected with analyzed microrelief parameters is offered. Use of the relation of these functionals guarantees reduction of the errors which are in numerator and a denominator of the given relation. The two-dimensional correlation function calculated according to the image of the microrelief of the surface as functionality is offered. Correlation function is wellknown mathematical object. Feature of the given method is correlation function scaling under the image of a microrelief of a surface. With that end in view in the surface image the reference fragment is selected. Then this standard scans the selected band of the image. At each combination of the standard and a current section of the analysed image the correlation factor is computed. The estimate is given to microrelief characteristics on autocorrelation functions. Thus, under characteristics of autocorrelation functions it is possible to estimate unequivocally microrelief characteristics and to eliminate the revealed additional error. Keywords: Opto-electronic method; Measurement; Converter; Surface; Luminous flux; Image; Error; Compensation; Autocorrelation.
РусА. Д. Абрамов, А. И. Никонов (Самарский государственный технический университет) E-mail: Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript EngA. D. Abramov, A. I. Nikonov (Samara State Technical University) E-mail: Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript
Рус1. Уайтхауз Д. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы / пер. с англ. А. Я. Григорьева, Д. В. Ткачука; под ред. Н. К. Мышкина. Долгопрудный: Интеллект, 2009. 472 с. Eng1. Whitehouse D., Myshkin N. K. (Ed.), Grigor'ev A. Ia., Tkachuk D. V. (Transl.). (2009). Metrology of surfaces. Principles, industrial methods and instruments. Dolgoprudnyi: Intellekt.
РусСтатью можно приобрести в электронном виде (PDF формат). Стоимость статьи 350 руб. (в том числе НДС 18%). После оформления заказа, в течение нескольких дней, на указанный вами e-mail придут счет и квитанция для оплаты в банке. После поступления денег на счет издательства, вам будет выслан электронный вариант статьи. Для заказа статьи заполните форму: {jform=1,doi=10.14489/vkit.2016.01.pp.003-009} . EngThis article is available in electronic format (PDF). The cost of a single article is 350 rubles. (including VAT 18%). After you place an order within a few days, you will receive following documents to your specified e-mail: account on payment and receipt to pay in the bank. After depositing your payment on our bank account we send you file of the article by e-mail. To order articles please fill out the form below: {jform=2,doi=10.14489/vkit.2016.01.pp.003-009}
. .
|